在電子, 航空航天, 通訊實(shí)驗(yàn)等行業(yè)中, 對(duì)于使用的芯片有著嚴(yán)格的要求, 使用的芯片在嚴(yán)苛環(huán)境中能否正常工作, 可靠性如何, 成為重要的關(guān)注點(diǎn), 而傳統(tǒng)驗(yàn)證方法由于溫度變化, 穩(wěn)定速度慢和無(wú)法提供快速變化的溫度環(huán)境, 很難滿足相應(yīng)的測(cè)試需要, 美國(guó) inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)解決了傳統(tǒng)驗(yàn)證方法缺陷問(wèn)題, 提供快速高低溫沖擊能力.