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inTEST 熱流儀半導體芯片高低溫測試

美國 inTEST 高低溫測試機可與愛德萬 advantest, 泰瑞達 teradyne, 惠瑞捷 verigy 工程機聯(lián)用, 進行半導體芯片高低溫測試. inTEST 高低溫測試機可以快速提供需要的模擬環(huán)境溫度滿足半導體芯片的溫度沖擊和溫度循環(huán)測試.

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    半導體芯片溫度測試案例: 某半導體廠商選用 inTEST-Temptronic thermostream ATS-710-M 高速溫度測試機, 提供循環(huán)測試溫度:-80°C 至 +225°C,每秒可快速升溫/降溫 18 °C,成功完成芯片的高低溫循環(huán)測試, 疲勞失效測試.


    inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供 2 種檢測模式 Air Mode 和 DUT Mode,溫度顯示精度:±1°C (通過美國國家標準與技術(shù)研究院 NIST 校準) ,不需要液態(tài)氮氣 (N2) 或液態(tài)二氧化碳 (CO2)冷卻。

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