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inTEST ATS-710E 高低溫沖擊熱流儀

美國 inTEST ThermoStream 熱流儀 ATS-710E 溫度沖擊范圍: -80°C 至 +225°C: 觸摸屏式控制面板, 防靜電設(shè)計, 具備自動除霜功能. 使用 inTEST 自主研發(fā)的 New ThermoStream? OCM 系統(tǒng), 兼容 Ethernet, IEEE-488, RS232, 全新人機控制界面, 不在受制于因 Windows 軟件而引發(fā)的系統(tǒng)過時問題! inTEST ATS-710E 是 Temptronic TPO4300 和 Thermonics T-2500 升級款!~

產(chǎn)品型號:
產(chǎn)品展商:

產(chǎn)品留言

    inTEST ThermoStream ATS-710E 技術(shù)參數(shù):

    型號

    溫度范圍°C

    輸出氣流量

    變溫速率

    溫度
    精度

    溫度顯示
    分辨率

    溫度
    傳感器

    遠程
    控制

    ATS-710E

    -75+225 50Hz
    -80
    +225 60Hz

    4 18 scfm
    1.8
    8.5l/s

    -55 +125°C 10 s
    +125
    -55°C 10 s

    ±1

    ±0.1

    T型或
    K

    熱電偶

    IEEE 488
    RS232

    inTEST ThermoStream ATS-710E 功能特點:

    自動升降溫: 冷凍機 Chiller 特殊設(shè)計, 制冷劑不含氟利昂, 無毒, 不易燃, 保護環(huán)境; 不需要液態(tài)氮氣 LN2 或液態(tài)二氧化碳 LCO2 冷卻

    預防結(jié)霜: 干燥氣流循環(huán)吹掃測試表面, 防止水汽凝結(jié) (氣體流量0.5至3scfm)

    自動待機: 空閑或加熱模式下, inTEST 高低溫測試機自動減少能耗

    加熱除霜: 快速除去冷凍機內(nèi)部積聚的水汽

    觸摸屏幕控制面板: Windows® 系統(tǒng)

    溫度顯示精度: ±1℃(通過美國國家標準與技術(shù)研究院NIST校準)

    過熱溫度保護: 出廠設(shè)置溫度 +230°C, 操作員可根據(jù)實際需要設(shè)置高低溫限制點。

    支持 Ethernet, IEEE-488, RS232, 支持測試數(shù)據(jù)存儲

    配置 USB, 鍵盤, 鼠標, 打印機端口

    熱流罩提供局限性的溫度測試環(huán)境, 特別適合溫度沖擊測試; 設(shè)計防止水氣在DUT上凝結(jié)


    inTEST ThermoStream ATS-710E 配置包含:

    1. 主機 ATS-710E

    2. 4.5或5.5 英寸熱流罩

    3. 耐高低溫專用密封墊

    * 客戶可根據(jù)實際應用選擇額外軟管和測試腔


    ATS-710E 高低溫測試機尺寸和重量:

    尺寸: 寬61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm

    凈重 236 kg, 毛重 365 kg

    與傳統(tǒng)高低溫測試箱, 溫濕度測試箱對比, inTEST ThermoStream 高低溫測試機主要優(yōu)勢:

    1. 變溫速率更快

    2. 溫控精度:±1℃

    3. 實時監(jiān)測待測元件真實溫度, 可隨時調(diào)整沖擊氣流溫度

    4. 針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個IC(模塊), 可單獨進行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件

    5. 對測試機平臺 load board上的IC進行溫度循環(huán) / 沖擊; 傳統(tǒng)高低溫箱無法針對此類測試

    6. 對整塊集成電路板提供準確且快速的環(huán)境溫度


    inTEST 高低溫沖擊熱流儀應用

    車載芯片及器件, 電源芯片, 功率器件, 通信芯片, 光纖收發(fā)器等溫度沖擊測試.

    美國 inTEST ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設(shè)計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準. 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證. inTEST 熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求.

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