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技術(shù)文章
1. LED規(guī)范列表 CNS 5069 單件半導(dǎo)體裝置之環(huán)境檢驗(yàn)法及耐久性檢驗(yàn)法–熱沖擊試驗(yàn) Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Test o...
LED交通號(hào)志可靠度試驗(yàn) 編輯搜圖 請(qǐng)點(diǎn)擊輸入圖片描述(*多18字) 嚴(yán)苛的可靠度試驗(yàn)條件項(xiàng)目包含了:電壓電動(dòng)、失效保護(hù)、電磁雜訊、防層防水、高溫試驗(yàn)、振動(dòng)試...
5G光通信模塊的可靠性測試包括: - 溫度測試 - 濕度測試 - 振動(dòng)測試 - 耐鹽霧測試 - 耐久性測試 - 其他測試 具體的環(huán)境可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)是:- JESD22-...
冷熱沖擊試驗(yàn)箱金屬測試是指在冷熱沖擊試驗(yàn)箱中對(duì)金屬材料進(jìn)行測試。冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種用于模擬極端溫度變化環(huán)境的設(shè)備,可以通過控制溫度、濕度和時(shí)間等參數(shù),對(duì)金屬材料的耐冷熱性能進(jìn)行評(píng)估。...
PC平板等各種電子產(chǎn)品在進(jìn)入市場之前都會(huì)經(jīng)過各類測試,比如高溫高濕測試項(xiàng)目、快速溫變測試項(xiàng)目、鹽霧腐蝕測試項(xiàng)目等等,這些測試項(xiàng)目使得廠家生產(chǎn)的PC平板等電子產(chǎn)品在可靠性方面有更強(qiáng)的說服力。...
三箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱是待測品動(dòng)態(tài)式冷、熱交替沖擊方式,廣泛使用于電子零組件測試,汽車零部件,半導(dǎo)體,電子線路板,金屬化學(xué),材料等測試設(shè)備。以及生物科技,學(xué)術(shù)研究單位,試驗(yàn)箱下部為低溫蓄冷區(qū)...
一、系統(tǒng)原理 控制系統(tǒng):控制系統(tǒng)是綜合試驗(yàn)箱的核心,決定了試驗(yàn)箱的加熱速率、精度等重要指標(biāo)。目前試驗(yàn)箱的控制器大多采用PID控制,少數(shù)采用PID與模糊控制相結(jié)合的控制方式。由于控...
1、溫度傳感器安裝不當(dāng)引入的誤差 如高低溫試驗(yàn)箱中熱電偶安裝的位置及插入深度不能反映爐膛的真實(shí)溫度等,換句話說,熱電偶不應(yīng)裝在太靠近門和加熱的地方,插入的深度至少應(yīng)為保護(hù)管直徑的...
恒溫恒濕試驗(yàn)箱適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗(yàn)。對(duì)電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下,檢驗(yàn)其各項(xiàng)...
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