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技術(shù)文章
Burn-in Burn-in is an electrical stress test that employs voltage and temperature to accelerate the electrical failure of a device. Burn-in essentially simulates the operati...
雙85恒溫恒濕可靠性環(huán)境試驗(yàn)（THB）
LED燈具可靠性測(cè)試方案
振動(dòng)試驗(yàn)（VVF）
溫度循環(huán)/冷熱沖擊試驗(yàn)（TC/TS）
BURN-IN高溫老化柜設(shè)備是用來(lái)移除早期失效的不合格產(chǎn)品配件的一種老化設(shè)備 武漢BURN-IN高溫老化柜、老化箱設(shè)備用途： 本試驗(yàn)設(shè)備是航空、汽車(chē)、家電、科研等領(lǐng)域的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試和確定電工、電...
半導(dǎo)體芯片之車(chē)規(guī)芯片 一臺(tái)新能源汽車(chē)分為好幾個(gè)系統(tǒng)，MCU隸屬于車(chē)身控制及車(chē)載系統(tǒng)，是最重要的系統(tǒng)之一。 MCU芯片又分為5個(gè)等級(jí)：消費(fèi)級(jí)，工業(yè)級(jí)，車(chē)規(guī)級(jí)，QJ，GJ。在這當(dāng)中，車(chē)規(guī)級(jí)芯片是當(dāng)前的風(fēng)向標(biāo)...
半導(dǎo)體的未來(lái)是否一片光明？ 受益于“5G+萬(wàn)物互聯(lián)”概念的興起，以及新能源汽車(chē)的高速發(fā)展，芯片的需求全面提升；又因?yàn)橐咔榈臎_擊和中美貿(mào)易的摩擦，芯片的供給受到了影響，所以國(guó)內(nèi)市場(chǎng)將會(huì)在這多因素下...
什么是環(huán)境測(cè)試？ 我們每天依賴的電子設(shè)備和工業(yè)產(chǎn)品會(huì)以多種方式受到環(huán)境的影響，包括溫度、濕度、壓力、光、電磁波和振動(dòng)。環(huán)境測(cè)試分析和評(píng)估這些環(huán)境因素對(duì)產(chǎn)品的影響，以確定其耐用性和可靠性。
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