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滴水瓦半導體產(chǎn)品可靠性相關的常見術語： 浴盆曲線 浴盆曲線通常用作一個可視化模型來說明產(chǎn)品故障率的三個關鍵時期，并未經(jīng)校準以描繪特定產(chǎn)品系列的...
可靠性測試 以下是半導體進行的各種可靠性測試的相關信息： 加速度測試 大多數(shù)半導體器件的壽命在正常使用下可超過很多年。 但我們不能等到若干年后再研究...
可靠性測試> 氣候環(huán)境可靠性測試 > HAST高加速老化測試 試驗目的是為了提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間，因此用來確定成品質...
可靠性測試> 氣候環(huán)境可靠性測試 > 氙燈老化試驗 氙燈老化試驗箱采用能模擬全陽光光譜的氙弧燈來再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波，可以為科研、產(chǎn)品開發(fā)和質量控制提供相應的環(huán)境模擬和加速試驗，又名“...
可靠性測試> 氣候環(huán)境可靠性測試 > 防塵測試 應用領域： ◆檢測產(chǎn)品的外殼密封性能； ◆主要用于外殼防護等級標準中規(guī)定的IP5X 和IP6X 兩個等級的試驗。 IP代碼： 表明外殼對人接近危險部件...
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